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日本千野CHINO 光學(xué)干涉膜厚儀IRMS8599S
IRMS8599S 將光投射到待測(cè)薄膜上，并根據(jù)來自正面的反射光和來自背面的反射光之間的干涉測(cè)量薄膜厚度。利用反射光譜中出現(xiàn)的波（干涉波）的數(shù)量隨著膜厚的增加而增加的原理來測(cè)量膜厚。無需校準(zhǔn)曲線，可進(jìn)行高精度測(cè)量。
配備RS-485通訊/模擬輸出功能
FFT 分析和 CF（曲線擬合）分析可以通過連續(xù)光譜進(jìn)行。
多可同時(shí)測(cè)量 4 層
工作溫度0～50℃，IP65（防塵防滴結(jié)構(gòu)）
| 姓名 | 格式 |
|---|---|
| 光學(xué)干涉膜厚儀 | IRMS8599S |
* 光纖、電纜和附件單獨(dú)出售。
| 測(cè)量方法 | 可見近紅外連續(xù)光譜 |
|---|---|
| 測(cè)量范圍 | 20nm-100μm |
| 測(cè)量波長(zhǎng)范圍 | 0.4-1.0微米 |
| 測(cè)量距離/直徑 | 10-80mm / φ20mm（平行光鏡筒） 18mm / φ2mm（會(huì)聚光鏡筒） 80mm / φ5mm（會(huì)聚光鏡筒） |
| 測(cè)量間隔 | 10-10000ms |
| 光源 | 鎢絲燈 |
| 纖維 | 雙支束纖維 |
| 通訊接口 | RS-485 |
| 模擬輸出信號(hào) | 4～20mA DC（負(fù)載電阻500Ω以下） |
| 電源 | 24V 直流 |
| 能量消耗 | 高達(dá) 150VA |
| 大量的 | 3.5公斤 |
| 保護(hù)結(jié)構(gòu) | 防塵防濺結(jié)構(gòu)（IP65） |
VIP會(huì)員
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